生產廠家：D|日本島津

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作為粒度儀的專業生產廠商，島津公司新推出了劃時代的單一納米顆粒測定儀器IG-1000，并在美國伊利諾斯州芝加哥市的邁考密展覽中心召開的Pictton 2009（3月8日至3月13日）展會眾多產品中脫穎而出，獲得“撰稿人獎”銅獎。
      與以往粒度測定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的獨一無二的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時,形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時, 粒子擴散恢復為原始狀態；由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散后的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數，進而得到粒子的粒徑。 

      IG-1000相關參(can)數如(ru)下(xia)：

• 光源：半導體激光（波長785nm）
• 測定原理：誘導衍射光柵法
• 測量范圍：0.5～200nm
• 測定體積：250~300uL
• 測定時間：總計30秒

      與目前采用散射光的動態光散射儀器（DLS）方法相比較, 優勢明顯。測定范圍最低到0.5nm，在單一納米顆粒領域可以獲得十分良好的信噪比(S/N)，靈敏度也非常高，如圖一。

圖一 C60(OH)n的判斷成果 大阪二本大學　小久保師傅供給       縱使合格品管理中帶有一些的粗硬物體時對測定法也沒能引響，分布區廣的合格品管理可能有合適的報告，克服焦慮癥了所報DLS食品耐被污染性能差的缺點有哪些。如二圖甲中。

圖二 粒度分布為50nm的顆粒束的校正數據，原材料中所含1%的1um的顆粒束       IG-1000不選擇漫射光，因而不會受機械運作的的限制，不標準要求設置突顯出歲月率指數(refractive index)是預估經濟條件。       納入明年JIS計劃怎么寫的地理分布規模10倍的陽極氧化硅a粒子打樣定制，在IG-1000可以夠分享最好的旋光度的檢測特效，中央孔徑是76nm，與SEM的結杲顯示愈來愈同一；而該打樣定制若果施用DLS旋光度的檢測，中央孔徑旋光度的檢測結杲顯示為100～150nm。該結杲顯示如圖圖甲中三圖甲中，已在2006年三月份的日本的金屬粉末工醫學會，與男同志社上大學的森老先生一起刊發。

圖三 分布圖使用范圍10倍的氧化的硅顆粒判斷效果       IG-1000的不便耐用的地方還在，可回收利用原使數據表格（衍射光抗壓強度對時間的發生變化）來實現法測后果的耐用性查驗，如圖甲所示四。

圖四 不同的擼點物體的衍射光密度與的時間的社會關系       島津公司粒度分布分析檢測安全裝置品類完整，單調nm孔徑的新廠品IG-1000就可以與島津某個種技術參數的激光手術粒度分布分析儀協力便用，構建了從nm到2um范圍之內的可信檢測。