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粒度分布在粉體物理性質中是最基本的特性之一，它不僅左右著粉體本身的性質和活動，而且也影響著以粉體為原料的制品的質量，是一個重要的物理性質。因此，在處理粉體時，粒度分布的測量就變得極其重要。

尤其是在前沿科學領域，諸如納米技術、生命科學以及環境科學領域，粒徑多在納米數量級，對于儀器的檢測下限要求很高。島津激光衍射式粒度分布測量儀SALD-7101，可以在短時間內，通過簡單的操作完成粒度分布的測定，并且分辨率高、精度高、重復性好。

另外(wai)，通過(guo)安裝在Windows操作(zuo)系統(tong)(tong)下的(de)軟件，可以實(shi)(shi)現統(tong)(tong)計處理、時(shi)間系統(tong)(tong)處理、實(shi)(shi)時(shi)監(jian)控、三維顯示等多(duo)種的(de)數據處理功能(neng)。

 特點：

• 主機（測量部）
  
  >>使用單一光學系統無斷點覆蓋0.010-300μm 粒徑范圍
  符合JIS規格的單一光源覆蓋了0.010-300μm的寬廣的粒子徑范圍。因此在全程測量范圍內，不存在粒度分布數據的不連貫和不匹配，實現完全無斷點的寬廣范圍。  

  >>采用紫色半導體激光
  由(you)于采(cai)用(yong)(yong)了(le)的(de)紫色(se)半導(dao)體(ti)激光(guang)，可測量(liang)(liang)的(de)粒(li)子(zi)范(fan)圍可達數十(shi)納米領域。另外(wai)，以往(wang)使用(yong)(yong)紅色(se)激光(guang)作(zuo)為光(guang)源的(de)粒(li)度分布測量(liang)(liang)裝置，由(you)于光(guang)吸收(shou)導(dao)致的(de)藍色(se)系(xi)粒(li)子(zi)很難(nan)正確測量(liang)(liang)的(de)問題，也迎刃而解。

  >>采用適應藍紫色激光的高靈敏度受光元素
  光(guang)(guang)(guang)(guang)傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)應用(yong)最(zui)高(gao)水準的(de)半(ban)導體(ti)制(zhi)造技術制(zhi)成(cheng)。除76元(yuan)素(su)的(de)前方散射(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)（Wing傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)）外(wai)，附加(jia)1元(yuan)素(su)的(de)側方散射(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)和4元(yuan)素(su)的(de)后方散射(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)。通過這(zhe)81元(yuan)素(su)的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)可以準確(que)地捕捉光(guang)(guang)(guang)(guang)強度(du)(du)(du)分(fen)(fen)布(bu)模(mo)式，從而對范圍寬廣的(de)粒子徑實(shi)現高(gao)分(fen)(fen)辨率高(gao)精度(du)(du)(du)地粒度(du)(du)(du)分(fen)(fen)布(bu)測量。全(quan)部這(zhe)些元(yuan)素(su)，均(jun)采(cai)用(yong)了最(zui)新工藝制(zhi)造的(de)、適應藍紫色(se)激光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)高(gao)靈敏度(du)(du)(du)受光(guang)(guang)(guang)(guang)元(yuan)素(su)。

  >>采用SLIT光學系統，用單一檢出面可連續捕捉最大達60度寬角度前方散射光
  采(cai)用(yong)(yong)了(le)SLIT（Scattered Light Intensity Trace,散(san)(san)射光(guang)(guang)強度(du)(du)(du)追蹤）光(guang)(guang)學系統(tong)。以往(wang)的(de)SALD系列或其他公司的(de)制品，可(ke)連(lian)續檢(jian)出前(qian)方(fang)散(san)(san)射光(guang)(guang)的(de)范圍最大只可(ke)到35度(du)(du)(du)左右。SALD-7101采(cai)用(yong)(yong)了(le)基于高(gao)度(du)(du)(du)散(san)(san)射光(guang)(guang)強度(du)(du)(du)追蹤技術的(de)SLIT光(guang)(guang)學系統(tong)，打(da)破了(le)一(yi)般(ban)常識，可(ke)用(yong)(yong)單一(yi)檢(jian)出面連(lian)續捕捉最大達60度(du)(du)(du)寬角(jiao)度(du)(du)(du)的(de)前(qian)方(fang)散(san)(san)射光(guang)(guang)，實現(xian)了(le)微粒(li)子領(ling)域的(de)高(gao)分辨率。

  >>能夠連續測定反應過程中粒子的粒度大小和分布的變化，時間間隔最短可以做到1s
  市場上(shang)其他的產(chan)品(pin)都需要至少10s以(yi)上(shang)。

  >>適用于超微粒子的濕法測量專用機
  是適合于涂料(liao)、顏料(liao)，食品，飲料(liao)，醫藥品，化(hua)妝(zhuang)品，乳劑(ji)，精制陶瓷(ci)等微(wei)粒子、超微(wei)粒子測量的濕法專用(yong)機。

  >>力求光學系統的穩定性
  采用全方位(wei)沖擊吸收裝(zhuang)置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔(ge)離光學(xue)系統(tong)，使(shi)其(qi)各個部件免受外來沖擊和震(zhen)動的干擾。因此幾乎不(bu)需(xu)要對光軸進行調整(zheng)。

  >>樣品池摘取簡單
  采用推拉(la)式樣(yang)品池座，方便樣(yang)品池的更換(huan)和清洗。

  >>使用壽命長且輸出功率穩定的半導體激光源
  光源采用形狀(zhuang)小(xiao)壽命長(chang)的半(ban)導體激光。并且附(fu)加穩定輸出回路，實現激光輸出功率的穩定化。

  >>配備激光光束安全系統
  雙(shuang)重(zhong)激(ji)光保護對(dui)策：測(ce)量(liang)室打開時，快門自動關閉及手動關閉激(ji)光光束。

• 多功能進樣器
  
  >>內置供水泵
  多功能進樣器內置供水泵，因此可使用市場上銷售的塑料桶等直接供水。解決了供水繁瑣的問題。  

  >>裝載CPU
  多功能進樣器(qi)(qi)配置(zhi)了超音波分散機、攪拌器(qi)(qi)、水位傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)和控(kong)制這些裝(zhuang)置(zhi)的ＣＰＵ。因此，通(tong)過電腦連(lian)接控(kong)制，可進行半自動測量(liang)。

• 軟件
  
  >>具有多種功能測量/數據處理的軟件
  名為WingSALD的操作軟件適用于Windows所有操作系統,并具有統計處理，時間系統處理，三維顯示等多種數據處理功能，操作簡便。
  多種統計方法：數目、體積、表面積和長度。  

  >>應用AI自動范圍判斷功能對粒度分布進行計算
  所謂(wei)AI自動范(fan)圍判斷(duan)功(gong)能是指，應用檢測出的(de)衍射光/散射光的(de)光強度分布(bu)(bu)(bu)數據(ju)，先進(jin)行(xing)大致的(de)粒度分布(bu)(bu)(bu)范(fan)圍判斷(duan)，再根據(ju)所得范(fan)圍選擇(ze)最適(shi)合的(de)計算條件，進(jin)行(xing)精密的(de)粒度分布(bu)(bu)(bu)計算。這(zhe)樣(yang)(yang)，即使事前(qian)無任何樣(yang)(yang)品相關(guan)信(xin)息，也可準確地捕捉到從窄到寬的(de)粒度分布(bu)(bu)(bu)形態。

  >>附加自我診斷功能、保養容易
  編入了強(qiang)大的(de)自我診斷(duan)功能。可以檢查裝置的(de)動作(zuo)狀況，使維護變得容易。

  >>裝備操作日志（Operation Log）功能
  操(cao)作(zuo)日志（Operation Log）功能，使所(suo)有的測(ce)量數(shu)據(ju)中包含了裝置(zhi)(zhi)的使用狀(zhuang)況(kuang)、樣品(pin)池的污(wu)染狀(zhuang)況(kuang)等細節信息(xi)，因此(ci)可以向前(qian)追溯(su)，驗證以往測(ce)量數(shu)據(ju)的正確性。通常(chang)狀(zhuang)態下(xia)不顯示(shi)，但電(dian)源(yuan)打開時刻、空(kong)白(bai)測(ce)量完成時刻、空(kong)白(bai)測(ce)量數(shu)據(ju)及該時間下(xia)光軸的位置(zhi)(zhi)等這些與裝置(zhi)(zhi)的操(cao)作(zuo)和使用狀(zhuang)態有關的數(shu)據(ju)都將被(bei)作(zuo)為文本數(shu)據(ju)添加到所(suo)有的測(ce)量數(shu)據(ju)中。